Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > The environment of graphene probed by electrostatic force microscopy > Comentaris
 
 
The environment of graphene probed by electrostatic force microscopy - Moser, Joel (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Verdaguer Prats, Albert (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Jiménez Jiménez, David (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barreiro Megino, Amelia (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Bachtold, Adrian (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; American Physical Society
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem