Scanning probe microscopies for analytical studies at the nanometer scale
Esplandiu Egido, Maria José (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Química)

Data:	2005
Resum:	The scanning probe microscopies (SPM) have transformed the way of studying the structure and the properties of a wide variety of systems. Without doubt, they have exerted a pivotal role in many scientific disciplines like physics, chemistry, biology and engineering and have helped to give birth to novel fields such as the nanoscience and nanotechnology. This review attempts to highlight the versatility and high sensitivity of these techniques for capturing analytical information at the nanometer scale. In this context we will provide a survey of scanning probe evolution from the capabilities to image topography, atomic/molecular structure and in-situ dynamic processes to the mapping or local probing of physical and chemical properties. A selection of illustrative SPM studies is presented covering several areas of science.
Resum:	Les microscòpies locals de rastreig han transformat la manera d'estudiar l'estructura i les propietats d'una gran varietat de sistemes. Sens dubte, han tingut un paper essencial en moltes disciplines, com ara la física, la química, la biologia i l'enginyeria, i han contribuït al naixement de nous camps, com ara la nanociència i la nanotecnologia. El present article intenta destacar la versatilitat i l'alta sensibilitat d'aquestes tècniques per tal de capturar informació analítica a escala nanomètrica. En aquest context, s'intentarà examinar l'evolució d'aquestes tècniques nanoscòpiques des de la seva capacitat per a recollir informació topogràfica, estructura atomicomolecular i processos dinàmics in situ fins a determinar localment propietats físiques i químiques. Es presenta una selecció d'estudis il·lustratius basats en aquestes tècniques que abraça diverses àrees de la ciència.
Drets:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, sempre que no sigui amb finalitats comercials i que es distribueixin sota la mateixa llicència que regula l'obra original. Cal que es reconegui l'autoria de l'obra original.
Llengua:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió publicada
Matèria:	Microscòpia de sonda de rastreig ; SPM ; Microscòpia de força atòmica ; AFM ; Microscòpia d'efecte túnel ; STM ; Espectroscòpia de força ; Mètodes d'anàlisi local ; Scanning probe microscopies ; Atomic force microscopy ; Scanning tunneling microscopy ; Force spectroscopy ; Local probe-based methods
Publicat a:	Contributions to science, Vol. 3, Núm. 1 (2005) , p. 33-46, ISSN 1575-6343

Adreça alternativa: http://revistes.iec.cat/index.php/CtS/article/view/335
Adreça alternativa: https://raco.cat/index.php/Contributions/article/view/157753

14 p, 5.7 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Articles > Articles de recerca
Articles > Articles publicats