Per citar aquest document: http://ddd.uab.cat/record/163087
Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories.
Díaz, J. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo-Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Data: 2016
Nota: Número d'acord de subvenció MINECO/TEC2010-16126
Nota: Número d'acord de subvenció MINECO/TEC2013-45638-C3-R
Nota: Número d'acord de subvenció AGAUR/2014/SGR-384
Drets: Tots els drets reservats.
Llengua: Anglès
Document: article ; recerca ; acceptedVersion
Matèria: Resistive switching ; Resistive random acces memories (RRAM) ; Random telegraph noise ; Ultrafast measurement
Publicat a: Review of scientific instruments, Vol. 87, Issue 6 (June 2016) , p. 64705, ISSN 0034-6748

DOI: 10.1063/1.4954973


Post-print
5 p, 2.7 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca > Documents dels grups de recerca de la UAB > Centres i grups de recerca (producció científica) > Enginyeries > Grup de Fiabilitat de Dispositius i Circuits Electrònics (REDEC)
Articles > Articles de recerca
Articles > Articles publicats

 Registre creat el 2016-07-21, darrera modificació el 2016-09-16



   Favorit i Compartir