Web of Science: 0 cites, Scopus: 3 cites, Google Scholar: cites
Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories
Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Maestro Izquierdo, Marcos (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Data: 2016
Ajuts: Ministerio de Economía y Competitividad TEC2010-16126
Ministerio de Economía y Competitividad TEC2013-45638-C3-R
Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-384
Drets: Tots els drets reservats.
Llengua: Anglès
Document: Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar
Matèria: Resistive switching ; Resistive random acces memories (RRAM) ; Random telegraph noise ; Ultrafast measurement
Publicat a: Review of scientific instruments, Vol. 87, Issue 6 (June 2016) , p. 64705, ISSN 0034-6748

DOI: 10.1063/1.4954973


Post-print
5 p, 2.7 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca > Documents dels grups de recerca de la UAB > Centres i grups de recerca (producció científica) > Enginyeries > Grup de Fiabilitat de Dispositius i Circuits Electrònics (REDEC)
Articles > Articles de recerca
Articles > Articles publicats

 Registre creat el 2016-07-21, darrera modificació el 2023-09-15



   Favorit i Compartir