Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Double-crystal spectrometer measurements of lattice parameters and X-ray topography on heterojunctions GaAs-AlxGa1−xAs > Comentaris
 
 
Double-crystal spectrometer measurements of lattice parameters and X-ray topography on heterojunctions GaAs-AlxGa1−xAs - Estop, E. (Centre national de la recherche scientifique (França). Laboratoire de Minéralogie Cristallographie) ; Izrael, A. (Centre national de la recherche scientifique (França). Laboratoire de Minéralogie Cristallographie) ; Sauvage, M. (Centre national de la recherche scientifique (França). Laboratoire de Minéralogie Cristallographie)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem