Pàgina inicial > Documents de recerca > Tesis doctorals > Internal IR-laser deflection measurements of temperature and free-carrier concentration in power devices > Comentaris
 
 
Internal IR-laser deflection measurements of temperature and free-carrier concentration in power devices - Perpiñà Giribet, Xavier ; Jordà i Sanuy, Xavier, dir. (Centro Nacional de Microelectrónica) ; Mestres i Andreu, Narcís, dir. (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem