Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución
Belarre Triviño, Francisco Javier
Rodríguez-Viejo, Javier, tut. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física)
Sandiumenge Ortiz, Felip, dir.
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria

Data:	2009
Descripció:	78 p.
Resum:	Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET).
Drets:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades.
Llengua:	Castellà
Titulació:	Ciència de Materials [5600169]
Col·lecció:	Escola d'Enginyeria. Projectes i treballs de final de carrera. Enginyeria de Materials
Document:	Treball final de grau
Matèria:	Superconductors d'alta temperatura ; Materials ; Raigs X ; Difracció

78 p, 4.7 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca > Treballs de recerca i projectes de final de carrera > Enginyeria. TFM