000098287 001 __ 98287
000098287 005 __20141007063554.0
000098287 024 8_ $9 primocentral $9 driver $a oai:ddd.uab.cat:98287
000098287 035 __ $a oai:www.recercat.cat:2072/198727
000098287 041 __ $a spa
000098287 080 __ $a 62
000098287 100 1_ $a Vileta Incausa, José Carlos
000098287 245 10 $a Desarrollo de un simulador para el estudio de la ruptura dieléctrica en circuitos CMOS
000098287 260 __ $c 2011
000098287 300 __ $a 89 p.
000098287 540 __ $9 info:eu-repo/semantics/openAccess $a L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons: $u http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/
000098287 546 __ $a Castellà.
000098287 653 __ $a Metall òxid semiconductors complementaris -- Fiabilitat
000098287 653 __ $a Ruptura elèctrica
000098287 655 _4 $a info:eu-repo/semantics/bachelorThesis
000098287 700 1_ $a Nafría i Maqueda, Montserrat $u Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica
000098287 710 1_ $a Universitat Autònoma de Barcelona. $b Escola  d'Enginyeria
000098287 762 18 $w hdl_2072_4393
000098287 856 40 $p 89 $s 1119994 $u http://ddd.uab.cat/pub/trerecpro/2011/hdl_2072_198727/PFC_JoseCarlosViletaIncausa.pdf
000098287 856 42 $3 Adreça alternativa $u http://hdl.handle.net/2072/198727
000098287 980 __ $a TRERECPRO $b UAB