Per citar aquest document: http://ddd.uab.cat/record/98287
Desarrollo de un simulador para el estudio de la ruptura dieléctrica en circuitos CMOS
Vileta Incausa, José Carlos
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria

Data: 2011
Descripció: 89 p.
Drets: L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons: Creative Commons
Llengua: Castellà.
Document: bachelorThesis
Matèria: Metall òxid semiconductors complementaris -- Fiabilitat ; Ruptura elèctrica

Adreça alternativa: http://hdl.handle.net/2072/198727


89 p, 1.1 MB

El registre apareix a les col·leccions:
Documents de recerca > Treballs de recerca i projectes de final de carrera > Enginyeria. Projectes de final de carrera > Enginyeria Electrònica. PFC

 Registre creat el 2012-08-31, darrera modificació el 2014-05-29



   Favorit i Compartir
QR image