Desarrollo de un simulador para el estudio de la ruptura dieléctrica en circuitos CMOS
Vileta Incausa, José Carlos
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria

Date:	2011
Description:	89 p.
Rights:	L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons:
Form:	bachelorThesis
Subject:	Metall òxid semiconductors complementaris -- Fiabilitat ; Ruptura elèctrica

Adreça alternativa: http://hdl.handle.net/2072/198727

89 p, 1.1 MB

The record appears in these collections:
Research literature > Dissertations