98287 driver oai:ddd.uab.cat:98287 hdl_2072_4393 oai:www.recercat.cat:2072/198727 spa 62 Vileta Incausa, José Carlos Desarrollo de un simulador para el estudio de la ruptura dieléctrica en circuitos CMOS 2011 89 p. info:eu-repo/semantics/openAccess L'accés als continguts d'aquest document queda condicionat a l'acceptació de les condicions d'ús establertes per la següent llicència Creative Commons: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ Metall òxid semiconductors complementaris -- Fiabilitat Ruptura elèctrica info:eu-repo/semantics/bachelorThesis Nafría i Maqueda, Montserrat Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria 89 1119994 http://ddd.uab.cat/pub/trerecpro/2011/hdl_2072_198727/PFC_JoseCarlosViletaIncausa.pdf Adreça alternativa http://hdl.handle.net/2072/198727 TRERECPRO UAB file 0 MD5 c87234716d7833f567cc6b7b228546ea 1119994 PDF 1.4 filepath pub/trerecpro/2011/hdl_2072_198727/PFC_JoseCarlosViletaIncausa.pdf disk