Pàgina inicial > Resultats de la cerca: Analyzing the effects of transient faults into applications
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 1 registres trobats en 0.05 segons.
Documents de recerca, 1 registres trobats
Documents de recerca 1 registres trobats  
1.
75 p, 1.4 MB Analyzing the effects of transient faults into applications / Gramacho, João ; Rexachs del Rosario, Dolores Isabel ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Arquitectura de Computadors i Sistemes Operatius ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
As computer chips implementation technologies evolve to obtain more performance, those computer chips are using smaller components, with bigger density of transistors and working with lower power voltages. [...]
L'evolució dels processadors en cerca de millors prestacions fa que els xips duguin transistors més petits i incloguin major quantitat y densitat de transistors, a més d'operar amb un voltatge més baix. [...]
La evolución de los procesadores en busca de prestaciones mejores hace que los circuitos lleven transistores más pequeños e incluyan mayor cantidad y densidad de transistores, además de operar con un voltaje menor. [...]
2009  
Registre complet - Creative Commons

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem