Tots aquests senyals es poden usar per a obtenir informació sobre la naturalesa de la mostra (morfologia, composició, estructura cristal·lina, estructura electrònica, etc.) i, de fet, els dos microscopis electrònics de rastreig de què disposen els Serveis Tècnics d'Investigació, JEOL JSM-840 i HITACHI S-3000N, tenen detectors que permeten l'anàlisi d'electrons secundaris, electrons retrodispersats i raigs X característics.