visitante ::
identificación
|
|||||||||||||||
Buscar | Enviar | Ayuda | Servicio de Bibliotecas | Sobre el DDD | Català English Español |
Página principal > Materiales académicos > Guías docentes > Microscòpies de Sonda Local |
Fecha: | 2016-17 |
Resumen: | Acquire the knowledge needed to understand the fundamentals and advances capabilities of the different Scanning Probe Microscopes (SPM) relevant for Nanoscience and Nanotechnology. |
Derechos: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. |
Lengua: | Anglès |
Titulación: | Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology [4314939] |
Plan de estudios: | Màster Universitari en Nanociència i Nanotecnologia Avançades/ Advanced Nanoscience and Nanotechnology [1360] |
Documento: | Objecte d'aprenentatge |
Anglès 3 p, 68.3 KB |