Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > High-Temperature Electrical and Thermal Aging Performance and Application Considerations for SiC Power DMOSFETs > Comentaris
 
 
High-Temperature Electrical and Thermal Aging Performance and Application Considerations for SiC Power DMOSFETs - Hamilton, Dean P. (University of Warwick) ; Jennings, M. R. (University of Warwick) ; Perez-Tomas, Amador (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Russell, Stephen A. O. (University of Warwick) ; Hindmarsh, Steven A. (University of Warwick) ; Fisher, C. A. (University of Warwick) ; Mawby, Philip A. (University of Warwick)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Enceteu un debat sobre qualsevol aspecte d'aquest document.

 Subscriure's to this discussion. You will then receive all new comments by email.

Afegeix un comentari


Un cop identificats, els usuaris autoritzats també hi poden adjuntar fitxers.
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.
          You can use some HTML tags: <a href>, <strong>, <blockquote>, <br />, <p>, <em>, <ul>, <li>, <b>, <i>

Registres semblants

Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem