Pàgina inicial > Articles > Articles publicats > Resultats de la cerca: 00036951v98n25

Articles publicats

  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Articles publicats 1 registres trobats  La cerca s'ha fet en 0.01 segons. 
1.
4 p, 302.1 KB Progressive breakdown dynamics and entropy production in ultrathin SiO2 gate oxides / Miranda, Enrique (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Suñé, Jordi, 1963- (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Jiménez Jiménez, David (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; American Physical Society
The progressive breakdown of ultrathin (≈2nm) SiO2 gate oxides subjected to constant electrical stress is investigated using a simple equivalent circuit model. It is shown how the interplay among series, parallel, and filamentary conductances that represent the breakdown path and its surroundings leads under certain hypothesis to a sigmoidal current-time characteristic compatible with the experimental observations. [...]
2011 - 10.1063/1.3602318
Applied physics letters, Vol. 98, Issue 25 (June 2011) , p. 253504/1-253504/3  
Registre complet -

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem