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9 p, 1.3 MB Functional dependence of resonant harmonics on nanomechanical parameters in dynamic mode atomic force microscopy / Gramazio, Federico (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Lorenzoni, Matteo (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Pérez-Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Rull Trinidad, Enrique (Technische Universiteit Delft) ; Staufer, Urs (Technische Universiteit Delft) ; Fraxedas, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia)
We present a combined theoretical and experimental study of the dependence of resonant higher harmonics of rectangular cantilevers of an atomic force microscope (AFM) as a function of relevant parameters such as the cantilever force constant, tip radius and free oscillation amplitude as well as the stiffness of the sample's surface. [...]
2017 - 10.3762/bjnano.8.90
Beilstein journal of nanotechnology, Vol. 8 (April 2017) , p. 883-891  
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