Resultats globals: 51 registres trobats en 0.03 segons.
Materials de curs, 28 registres trobats
Documents de recerca, 12 registres trobats
Articles, 11 registres trobats
Materials de curs 28 registres trobats  1 - 10següentfinal  anar al registre:
1.
3 p, 71.9 KB Nanoelectromechanical Sytems (NEMS) [43432] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Torres Canals, Francisco (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
The module aims to give students an overview of nanoelectromechanical systems, their main properties and applications. The physical principles that govern the behavior of the NEMS and the boundaries between classical and quantum models will be also established.
2017-18
Màster Universitari en Nanociència i Nanotecnologia Avançades/ Advanced Nanoscience and Nanotechnology [1360]  
2.
4 p, 72.7 KB Aplicacions Multidisciplinàries I [102729] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Esteve Tintó, Jaume ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
L'objectiu genèric de l'assignatura és aplicar l'electrónica com a a tecnologia de suport en altres camps i activitats i no només a l'àmbit de les Tecnologies de la Informació i les Comunicacions. [...]
2017-18
Grau en Enginyeria Electrònica de Telecomunicació [957]  
3.
4 p, 76.3 KB Integrated Circuits and Systems for Communications [42835] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Sacristán Riquelme, Jorge ; Uranga del Monte, Maria Aránzazu ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
Provide the concepts, techniques and tools for the design and implementation of integrated systems specially those applied to the area of radiofrequency communication. The studies will cover future trends of these integrated systems in terms of design and technological predictions.
2017-18
Màster Universitari en Enginyeria de Telecomunicació / Telecommunication Engineering [1170]  
4.
4 p, 78.2 KB Instrumentació Electrònica [103308] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
L'objectiu principal és proporcionar els conceptes bàsics, amb especial èmfasi als aspectes pràctics, per a la implementació de sistemes d'instrumentació electrònica per a l'acondicionament i el processat de senyals. [...]
2017-18
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]  
5.
5 p, 80.5 KB Micro i Nanosistemes [103298] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
L'objectiu general del curs és que l'alumne conegui els principals principis de transducció, els elements i també les arquitectures implicades en el sensat i actuació a escala micro i nanomètrica. [...]
2017-18
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]  
6.
3 p, 75.0 KB Integrated Circuits and Systems for Communications [42835] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
Provide the concepts, techniques and tools for the design and implementation of integrated systems specially those applied to the area of radiofrequency communication. The studies will cover future trends of these integrated systems in terms of design and technological predictions.
2016-17
Enginyeria de Telecomunicació / Telecommunication Engineering [1170]  
7.
3 p, 71.9 KB Nanoelectromechanical Sytems (NEMS) [43432] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
The module aims to give students an overview of nanoelectromechanical systems, their main properties and applications. The physical principles that govern the behavior of the NEMS and the boundaries between classical and quantum models will be also established.
2016-17
1360 [1360]  
8.
4 p, 72.8 KB Aplicacions Multidisciplinàries I [102729] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
L'objectiu genèric de l'assignatura és aplicar l'electrónica com a a tecnologia de suport en altres camps i activitats i no només a l'àmbit de les Tecnologies de la Informació i les Comunicacions. [...]
2016-17
Enginyeria Electrònica de Telecomunicació [957]  
9.
5 p, 81.0 KB Micro i Nanosistemes [103298] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
L'objectiu general del curs és que l'alumne conegui els principals principis de transducció, els elements i també les arquitectures implicades en el sensat i actuació a escala micro i nanomètrica. [...]
2016-17
Nanociència i Nanotecnologia [983]  
10.
4 p, 78.3 KB Instrumentació Electrònica [103308] / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
L'objectiu principal és proporcionar els conceptes bàsics, amb especial èmfasi als aspectes pràctics, per a la implementació de sistemes d'instrumentació electrònica per a l'acondicionament i el processat de senyals. [...]
2016-17
Nanociència i Nanotecnologia [983]  

Materials de curs : 28 registres trobats   1 - 10següentfinal  anar al registre:
Documents de recerca 12 registres trobats  1 - 10següent  anar al registre:
1.
236 p, 3.6 MB NEMS/MEMS integration in submicron CMOS Technologies / Muñoz Gamarra, Jose Luis ; Barniol i Beumala, Núria, tutora (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica
La reducción de los dispositivos MEMS hasta la nano escala (NEMS) ha permitido el acceso a nuevos dominios de la física y promete revolucionar las aplicaciones de sensado. Sin embargo esta miniaturización ha sido conseguida a costa de procesos de fabicración complicados y no reproducibles. [...]
The reduction of MEMS devices dimensions to the nano scale (NEMS) has allowed them to access a host of new physics and promise to revolutionize sensing applications. However this miniaturization has been obtained at an expense of dedicated, difficult and non reproducible fabrication processes. [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2015  
2.
225 p, 3.1 MB Characterization of nanomechanical resonators based on silicon nanowires / Sansa Perna, Marc ; Pérez Murano, Francesc, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria, tutora (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica
Els sensors de massa nanomecànics han atret un gran interès darrerament per la seva alta sensibilitat, que ve donada per les petites dimensions del ressonador que actua com a element sensor. Aquesta tesi tracta sobre la fabricació i caracterització de ressonadors nanomecànics per a aplicacions de sensat de massa. [...]
Nanomechanical mass sensors have attracted interest during the last years thanks to their unprecedented sensitivities, which arise from the small dimensions of the resonator which comprises the sensing element. [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2013  
3.
246 p, 12.8 MB Monolithic packaging and transduction approaches for CMOS-MEMS resonators / Marigó Ferrer, Eloi ; Barniol i Beumala, Núria, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica
El gran increment en el rendiment dels MEMS i la seva aplicació a multitud de camps ha motivat la seva recerca i desenvolupament. Des de la primera demostració d'un MEMS, moltes aplicacions han sorgit, essent el camp dels sensors el seu sector més competitiu. [...]
The increasingly performance of MEMS and their applicability to a wide range of fields has motivated the research and development of such devices. From the first demonstration of MEMS several applications have grown being the field of sensors their most competitive area. [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2013  
4.
105 p, 4.4 MB Disseny d'un cronòmetre i d'un freqüencímetre integrats en un NIOS controlats sobre μClinux / Gutiérrez i Bravo, Àngel ; Barniol i Beumala, Núria, (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
El projecte que es presenta permet analitzar els avantatges i inconvenients d'una programació orientada a hardware i d'una programació orientada a software a partir del desenvolupament de dos dissenys, un cronòmetre i un freqüencímetre en cadascun dels modes de programació. [...]
El proyecto que se presenta permite analizar las ventajas e inconvenientes de una programación orientada a hardware y de una programación orientada a software a partir del desarrollo de dos diseños, un cronómetro y un frecuencímetro en cada uno de los modos de programación. [...]
The project presented analyzes the advantages and disadvantages of a hardware-oriented programming and a software-oriented programming from the development of two designs, a chronometer and a frequencymeter in each of the programming modes. [...]

2011  
5.
12 p, 841.8 KB Sistema de lectura para un elemento transductor mecánico / Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Verd Martorell, Jaume (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Villarroya Gaudó, María ; Teva Meroño, Jordi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona
Sistema de lectura para un elemento transductor mecánico que comprende medios de amplificación de tensión que definen un nodo de entrada (Vin) y un nodo de salida (Vo), en cuyo nodo de entrada (Vin) se conecta la salida del transductor y los medios de amplificación amplifican la tensión en el nodo de entrada (Vin) que corresponde a la tensión en la salida del elemento transductor, y medios (Rbias) de polarización de dichos medios de amplificación, estando conectados los medios (Rbias) de polarización entre el nodo de entrada (Vin) y el nodo de salida (Vo) de los medios de amplificación, para polarizar el nodo de entrada (Vin) conectándolo al nodo de salida (Vo).
Madrid : Oficina Española de Patentes y Marcas, 2006  
6.
8 p, 696.4 KB Procedimiento de integración monolítica de materiales de alta calidad mecánica con circuitos integrados para aplicaciones MEMS/NEMS / Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Esteve Tinto, Jaume (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Figueras Costa, Eduardo (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Verd Martorell, Jaume (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Villarroya Gaudó, María ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal Segura, Francesca ; Universitat Autònoma de Barcelona ; Consejo Superior de Investigaciones Científicas (Espanya)
Comprende utilizar para la formación de dicha circuitería electrónica y de dichos sistemas micra/nano-electromecánicos, una estructura de al menos tres capas: - una inferior o de base destinada a ser utilizada para formar dichos circuitos electrónicos; - una capa intermedia aislante; y - una capa superior destinada a formar, al menos en parte, dichos MEMS/NEMS, Dicha estructura de al menos tres capas es un substrato, tal como un substrato SOI, cuyas capas están unidas entre sí previamente a la formación en las mismas tanto de los citados circuitos electrónicos como de los referidos MEMS/NEMS, definiéndose en primer lugar unas zonas de dichas capas superior en intermedia donde se desean formar dichos MEMS/NEMS, y eliminándose el resto de dichas capas para poder acceder a la capa inferior y poder formar la circuitería electrónica mediante técnicas convencionales.
Madrid : Oficina Española de Patentes y Marcas, 2008  
7.
204 p, 4.6 MB Application of CMOS-MEMS integrated resonators to RF communicaction systems / López Méndez, Juan Luis ; Barniol i Beumala, Núria, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electronica
Els dispositius MEMS han demostrat la seva utilitat en un gran ventall d'aplicacions de sensat i actuació. L'extensió al domini de RF d'aquests elements mecànics són ara una de les peces clau per sistemes altament reconfigurables referències de freqüència i processadors de senyals. [...]
MEMS devices demonstrated a wide range of sensing and actuation applications. These mechanical elements present nowadays extension to the RF world as key elements for highly reconfigurable systems, frequency references and signal processors. [...]

Bellaterra: Universitat Autònoma de Barcelona, 2009  
8.
187 p, 7.3 MB Caracterització d'oscil·ladors basats en CMOS-M/NEMS i la seva aplicació com a sensors de massa / Sansa Perna, Marc ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
El present projecte tracta sobre la caracterització d'oscil·ladors basats en ressonadors micro/nanoelectromecànics (M/NEMS) i la seva aplicació com a sensors de massa. Els oscil·ladors utilitzats es basen en un pont i una palanca ressoants M/NEMS, integrats en tecnologia CMOS. [...]
El presente proyecto trata sobre la caracterización de osciladores basados en resonadores micro/nanoelectromecánicos (M/NEMS) y su aplicación como sensores de masa. Los osciladores utilizados se basan en un puente y una palanca resonantes M/NEMS, integrados en tecnología CMOS. [...]
The aim of the present project is the characterization of micro/nanoelectromechanical (M/NEMS)-based oscillators and their application as mass sensors. The studied oscillators are based on a bridge and a cantilever resoant M/NEMS, integrated in CMOS technology. [...]
Nota: Aquest document conté originàriament altre material i/o programari només consultable a la Biblioteca de Ciència i Tecnologia.

2008  
9.
52 p, 1.1 MB Desarrollo de un estimulador eléctrico integrado implantable para el control de la micción en lesionados medulares / Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
La continencia y la micción dependen de una serie de nervios periféricos que se encuentran situados en la zona sacra de la columna vertebral y regulan la actividad del músculo detrusor ( músculo de la vejiga) y del esfínter. [...]
Continence and micturition depend on peripheral nerves that are situated in the sacral spinal cord and regulate the activity of the detrusor muscle (bladder muscle) and sphincter. The lesion in the spinal cord modifies the control of muscles and organs which origin is situated under the lesion zone. [...]

Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2001
4 documents
10.
30 p, 451.9 KB Desenvolupament d'un microscopi òptic de camp proper (SNOM) per a la caracterització de components optoelectrònics integrats / Borrisé Nogué, Xavier ; Barniol i Beumala, Núria, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
L'objectiu principal d'aquesta tesi és el desenvolupament d'una nova eina de caracterització local, basada en tècniques de microscòpia d'escombrat, que permeti estudiar la propagació de la llum en medis de guiat òptic. [...]
The main objective of this thesis is to develop a new instrument, a Scanning Near-Field Optical Microscope (SNOM), based on scanning microscopy techniques, for the characteritzation of optical guiding devices. [...]

Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2001
6 documents

Documents de recerca : 12 registres trobats   1 - 10següent  anar al registre:
Articles 11 registres trobats  1 - 10següent  anar al registre:
1.
7 p, 3.6 MB CMOS-NEMS Copper Switches Monolithically Integrated Using a 65 nm CMOS Technology / Muñoz Gamarra, Jose Luis (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
This work demonstrates the feasibility to obtain copper nanoelectromechanical (NEMS) relays using a commercial complementary metal oxide semiconductor (CMOS) technology (ST 65 nm) following an intra CMOS-MEMS approach. [...]
2016 - 10.3390/mi7020030
Micromachines, Vol. 7 Núm. 2 (February 2016) , p. 1-7  
2.
15 p, 4.1 MB Enhancement of Frequency Stability Using Synchronization of a Cantilever Array for MEMS-Based Sensors / Torres Canals, Francisco (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Sobreviela, Guillermo ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Riverola Borreguero, Martin
Micro and nano electromechanical resonators have been widely used as single or multiple-mass detection sensors. Smaller devices with higher resonance frequencies and lower masses offer higher mass responsivities but suffer from lower frequency stability. [...]
2016 - 10.3390/s16101690
Sensors, Vol. 16 Núm. 10 (October 2016) , p. 1-15  
3.
9 p, 5.1 MB Fabrication and Measurement of a Suspended Nanochannel Microbridge Resonator Monolithically Integrated with CMOS Readout Circuitry / Vidal Álvarez, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Marigó Ferrer, Eloi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Torres Canals, Francisco (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
We present the fabrication and characterization of a suspended microbridge resonator with an embedded nanochannel. The suspended microbridge resonator is electrostatically actuated, capacitively sensed, and monolithically integrated with complementary metal-oxide-semiconductor (CMOS) readout circuitry. [...]
2016 - 10.3390/mi7030040
Micromachines, Vol. 7 N. 3 (March 2016) , p. 1-9  
4.
12 p, 2.7 MB Top-Down CMOS-NEMS Polysilicon Nanowire with Piezoresistive Transduction / Marigó Ferrer, Eloi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Sansa Perna Marc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
A top-down clamped-clamped beam integrated in a CMOS technology with a cross section of 500 nm × 280 nm has been electrostatic actuated and sensed using two different transduction methods: capacitive and piezoresistive. [...]
2015
Sensors, Vol. 15 (2015) , p. 17036-1704  
5.
4 p, 355.8 KB Ultrasensitive mass sensor fully integrated with complementary metal-oxide-semiconductor circuitry / Forsen, E. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Ghatnekar-Nilsson, S. (University of Lund. Solid State Physics and The Nanometer Consortium) ; Teva Meroño, Jordi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Verd Martorell, Jaume (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Sandberg, R. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; Svendsen, W. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Esteve Tinto, Jaume (Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM)) ; Figueras Costa, Eduardo (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal Segura, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM)) ; Montelius, L. (University of Lund. Solid State Physics and The Nanometer Consortium) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Boisen, A. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; American Physical Society
Nanomechanical resonators have been monolithically integrated on preprocessed complementary metal-oxide-semiconductor(CMOS) chips. Fabricatedresonatorsystems have been designed to have resonance frequencies up to 1. [...]
2005 - 10.1063/1.1999838
Applied Physics Letters, Vol. 87, Issue 4 (July 2005) , p. 043507/1- 043507/3  
6.
4 p, 630.0 KB Modification of HF-treated silicon (100) surfaces by scanning tunneling microscopy in air under imaging conditions / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; American Physical Society
The modification of HF‐etched silicon (100) surface with a scanning tunneling microscope(STM) operated in air is studied for the first time in samples subjected to the standard HF etching without the follow‐up rinsing in H2O. [...]
1992 - 10.1063/1.107885
Applied Physics Letters, Vol. 61, Issue 4 (July 1992) , p. 462-464  
7.
4 p, 503.9 KB Nondestructive multlple breakdown events in very thin SI02 films / Suñé, Jordi, 1963- (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Farrés i Berenguer, Esteve (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Placencia Millan, Iolanda (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín, Ferran, (Martín Antolín) (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; American Physical Society
Several breakdown events and multilevel current fluctuations have been observed when ultrathin SiO2 films are subjected to constant‐voltage stresses. These breakdown events are sometimes reversible, and consist in a local change of conduction mechanism. [...]
1989 - 10.1063/1.102396
Applied Physics Letters, Vol. 55, Issue 2 (July 1989) , p. 128-130  
8.
4 p, 227.5 KB Measuring electrical current during scanning probe oxidation / Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Olmos, Cristina (Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM)) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Kuramochi, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Yokoyama, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Dagata, J. A. (National Institute of Standards and Technology (Gaithersburg, Estats Units d'Amèrica)) ; American Physical Society
Electrical current is measured during scanning probe oxidation by performing force versus distance curves under the application of a positive sample voltage. It is shown how the time dependence of the current provides information about the kinetics of oxide growth under conditions in which the tip–surface distance is known unequivocally during current acquisition. [...]
2003 - 10.1063/1.1572480
Applied Physics Letters, Vol. 82, Issue 18 (April 2003) , p. 3086-3088  
9.
4 p, 332.8 KB Integrated tunneling sensor for nanoelectromechanical systems / Sadewasser, Sascha (Instituto de Microelectrónica de Barcelona) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Dohn, S. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; Boisen, A. (Technical University of Denmark. Department of Micro and Nanotechnology) ; Fonseca Chácharo, Luis Antonio (Instituto de Microelectrónica de Barcelona) ; Esteve Tinto, Jaume (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; American Physical Society
Transducers based on quantum mechanical tunneling provide an extremely sensitive sensor principle, especially for nanoelectromechanical systems. For proper operation a gap between the electrodes of below 1nm is essential, requiring the use of structures with a mobile electrode. [...]
2006 - 10.1063/1.2362593
Applied Physics Letters, Vol. 89, Issue 17 (October 2006) , p. 173101/1-173101/3  
10.
4 p, 404.7 KB Localized and distributed mass detectors with high sensitivity based on thin-film bulk acoustic resonators / Campanella, Humberto (Centro Nacional de Microelectrónica) ; Esteve Tinto, Jaume (Centro Nacional de Microelectrónica) ; Montserrat, Josep (Centro Nacional de Microelectrónica) ; Uranga del Monte, Aránzazu (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Romano Rodríguez, Alberto (Universitat de Barcelona. Departament d'Electrònica) ; American Physical Society
A mass sensor based on thin-film bulk acoustic resonator, intended for biomolecular applications, is presented. The thin film is a (002) AlN membrane, sputtered over Ti/Pt on a (001) Si wafer, and released by surface micromachining of silicon. [...]
2006 - 10.1063/1.2234305
Applied Physics Letters, Vol. 89, Issue 3 (July 2006) , p. 033507/1-033507/3  

Articles : 11 registres trobats   1 - 10següent  anar al registre:
Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.