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4 p, 345.8 KB Electrical characterization of the soft breakdown failure mode in MgO layers / Miranda, Enrique (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; O'Connor, Eamon (University College Cork. Tyndall National Institute) ; Hughes, Greg (Dublin City University. School of Physical Sciences) ; Casey, Patrick (Dublin City University. School of Physical Sciences) ; Cherkaoui, Karim (University College Cork. Tyndall National Institute) ; Monaghan, S. (University College Cork. Tyndall National Institute) ; Long, R. (University College Cork. Tyndall National Institute) ; O'Connell, Deborah (University College Cork. Tyndall National Institute) ; Hurley, Paul K. (University College Cork. Tyndall National Institute) ; American Physical Society
The soft breakdown (SBD) failure mode in 20 nm thick MgO dielectric layers grown on Si substrates was investigated. We show that during a constant voltage stress, charge trapping and progressive breakdown coexist, and that the degradation dynamics is captured by a power-law time dependence. [...]
2009 - 10.1063/1.3167827
Applied physics letters, Vol. 95, Issue 1 (July 2009) , p. 012901/1-012901/3  
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1 Hurley, Paul K.
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