Pàgina inicial > Resultats de la cerca: Llobet Sixto, Jordi
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 7 registres trobats en 0.02 segons.
Articles, 5 registres trobats
Documents de recerca, 2 registres trobats
Articles 5 registres trobats  
1.
14 p, 417.1 KB Enabling electromechanical transduction in silicon nanowire mechanical resonators fabricated by focused ion beam implantation / Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Sansa Perna, Marc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Gerbolés, M. (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Mestres i Andreu, Narcís (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Arbiol i Cobos, Jordi (Institució Catalana de Recerca i Estudis Avançats) ; Borrisé, Xavier (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
We present the fabrication of silicon nanowire (SiNW) mechanical resonators by a resistless process based on focused ion beam local gallium implantation, selective silicon etching and diffusive boron doping. [...]
2014 - 10.1088/0957-4484/25/13/135302
Nanotechnology, Vol. 25, issue 13 (April 2014) , art. 135302  
Registre complet -
2.
21 p, 5.3 MB Multi-frequency resonance behaviour of a Si fractal NEMS resonator / Tzanov, Vassil (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Torres, Francesc 1948- (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Pérez-Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Novel Si-based nanosize mechanical resonator has been top-down fabricated. The shape of the resonating body has been numerically derived and consists of seven star-polygons that form a fractal structure. [...]
2020 - 10.3390/nano10040811
Nanomaterials, Vol. 10, Issue 4 (April 2020) , art. 811  
Registre complet - Creative Commons
3.
6 p, 1.1 MB Evaluating the compressive stress generated during fabrication of Si doubly clamped nanobeams with AFM / Lorenzoni, Matteo (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Gramazio, Federico (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Sansa Perna, Marc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Fraxedas, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
In this work, the authors employed Peak Force tapping and force spectroscopy to evaluate the stress generated during the fabrication of doubly clamped, suspended silicon nanobeams with rectangular section. [...]
2016 - 10.1116/1.4967930
Journal of vacuum science and technology. B, Nanotechnology & microelectronics, Vol. 34, Issue 6 (November 2016) , art. 6KK02  
Registre complet - Creative Commons
4.
6 p, 1.5 MB Resonant tunnelling features in a suspended silicon nanowire single-hole transistor / Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Krali, Emiljana (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Wang, Chen (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Arbiol i Cobos, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Jones, Mervyn E. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Durrani, Zahid A. K. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró
Suspended silicon nanowires have significant potential for a broad spectrum of device applications. A suspended p-type Si nanowire incorporating Si nanocrystal quantum dots has been used to form a single-hole transistor. [...]
2015 - 10.1063/1.4936757
Applied physics letters, Vol. 107, issue 22 (Nov. 2015) , art. 223501  
Registre complet -
5.
10 p, 2.5 MB A statistical analysis of nanocavities replication applied to injection moulding / Pina Estany, Jordi (Universitat Ramon Llull. Institut Químic de Sarrià-IQS) ; Colominas, Carles (Universitat Ramon Llull. Institut Químic de Sarrià-IQS) ; Fraxedas, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria (Universitat Ramon Llull. Institut Químic de Sarrià-IQS) ; Ruso, D. (Flubetech SL) ; García Granada, Andrés (Universitat Ramon Llull. Institut Químic de Sarrià-IQS)
The purpose of this paper is to investigate both theoretically and experimentally how nanocavities are replicated in the injection moulding manufacturing process. The objective is to obtain a methodology for efficiently replicate nanocavities. [...]
2017 - 10.1016/j.icheatmasstransfer.2016.11.003
International communications in heat and mass transfer, Vol. 81 (Feb. 2017) , p. 131-140  
Registre complet - Creative Commons

Documents de recerca 2 registres trobats  
1.
117 p, 5.4 MB Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices / Llobet Sixto, Jordi ; Pérez Murano, Francesc, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Borrisé, Xavier, dir. ; Sort Viñas, Jordi, tut. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física
La tesi doctoral titulada "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aborda el repte de la fabricació de ressonadors nano-mètrics des d'una nova òptica basada en la implantació iònica mitjançant un feix de ions focalitzat (FIB). [...]
The thesis entitled "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aboard the challenge of the fabrication of nanometric resonators from a new approach based on ion implantation by a focused ion beam (FIB) . [...]
[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2016  
Registre complet - Creative Commons
2.
79 p, 8.0 MB FIB una eina per a l'enginyeria de materials / Llobet Sixto, Jordi ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola d'Enginyeria
En aquest projecte es presenta la tecnologia FIB com una eina capaç d'oferir solucions de nanocaracterització i nanofabricació dins de l'entorn del BCN-b. En primer lloc es fa una breu descripció dels fenòmens que ocorren durant la utilització de l'equip i sobre les característiques i components que l'integren. [...]
2007  
Registre complet - Creative Commons

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem