Results overview: Found 5 records in 0.02 seconds.
Articles, 3 records found
Research literature, 2 records found
Articles 3 records found  
1.
6 p, 1.1 MB Evaluating the compressive stress generated during fabrication of Si doubly clamped nanobeams with AFM / Lorenzoni, Matteo (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Gramazio, Federico (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Sansa Perna, Marc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Fraxedas i Calduch, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
In this work, the authors employed Peak Force tapping and force spectroscopy to evaluate the stress generated during the fabrication of doubly clamped, suspended silicon nanobeams with rectangular section. [...]
2016 - 10.1116/1.4967930
Journal of vacuum science and technology B, Vol. 34, Issue 6 (November 2016) , art. 6KK02  
2.
6 p, 1.5 MB Resonant tunnelling features in a suspended silicon nanowire single-hole transistor / Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Krali, Emiljana (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Wang, Chen (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Arbiol i Cobos, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Jones, Mervyn E. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Durrani, Zahid A. K. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró
Suspended silicon nanowires have significant potential for a broad spectrum of device applications. A suspended p-type Si nanowire incorporating Si nanocrystal quantum dots has been used to form a single-hole transistor. [...]
2015 - 10.1063/1.4936757
Applied physics letters, Vol. 107, issue 22 (Nov. 2015) , art. 223501  
3.
10 p, 2.5 MB A statistical analysis of nanocavities replication applied to injection moulding / Pina Estany, Jordi (Institut Químic de Sarrià) ; Colominas, Carles (Institut Químic de Sarrià) ; Fraxedas i Calduch, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Puigoriol-Forcada, Josep Maria (Institut Químic de Sarrià) ; Ruso, D. (Flubetech SL) ; García Granada, Andrés (Institut Químic de Sarrià)
The purpose of this paper is to investigate both theoretically and experimentally how nanocavities are replicated in the injection moulding manufacturing process. The objective is to obtain a methodology for efficiently replicate nanocavities. [...]
2017 - 10.1016/j.icheatmasstransfer.2016.11.003
International communications in heat and mass transfer, Vol. 81 (Feb. 2017) , p. 131-140  

Research literature 2 records found  
1.
117 p, 5.4 MB Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices / Llobet Sixto, Jordi ; Pérez Murano, Francesc, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Borrisé Nogué, Xavier, dir. ; Sort Viñas, Jordi ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física
La tesi doctoral titulada "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aborda el repte de la fabricació de ressonadors nano-mètrics des d'una nova òptica basada en la implantació iònica mitjançant un feix de ions focalitzat (FIB). [...]
The thesis entitled "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aboard the challenge of the fabrication of nanometric resonators from a new approach based on ion implantation by a focused ion beam (FIB) . [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2016  
2.
79 p, 8.0 MB FIB una eina per a l'enginyeria de materials / Llobet Sixto, Jordi ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
En aquest projecte es presenta la tecnologia FIB com una eina capaç d'oferir solucions de nanocaracterització i nanofabricació dins de l'entorn del BCN-b. En primer lloc es fa una breu descripció dels fenòmens que ocorren durant la utilització de l'equip i sobre les característiques i components que l'integren. [...]
2007  

Interested in being notified about new results for this query?
Set up a personal email alert or subscribe to the RSS feed.