Resultados globales: 3 registros encontrados en 0.02 segundos.
Artículos, Encontrados 1 registros
Documentos de investigación, Encontrados 2 registros
Artículos Encontrados 1 registros  
1.
6 p, 1.5 MB Resonant tunnelling features in a suspended silicon nanowire single-hole transistor / Llobet Sixto, Jordi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Krali, Emiljana (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Wang, Chen (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Arbiol i Cobos, Jordi (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Jones, Mervyn E. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Durrani, Zahid A. K. (Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering) ; ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró
Suspended silicon nanowires have significant potential for a broad spectrum of device applications. A suspended p-type Si nanowire incorporating Si nanocrystal quantum dots has been used to form a single-hole transistor. [...]
2015 - 10.1063/1.4936757
Applied physics letters, Vol. 107, issue 22 (Nov. 2015) , art. 223501  

Documentos de investigación Encontrados 2 registros  
1.
117 p, 5.4 MB Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices / Llobet Sixto, Jordi ; Pérez Murano, Francesc, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Borrisé Nogué, Xavier, dir. ; Sort Viñas, Jordi ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física
La tesi doctoral titulada "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aborda el repte de la fabricació de ressonadors nano-mètrics des d'una nova òptica basada en la implantació iònica mitjançant un feix de ions focalitzat (FIB). [...]
The thesis entitled "Focused ion beam implantation as a tool for the fabrication of nano electromechanical devices" aboard the challenge of the fabrication of nanometric resonators from a new approach based on ion implantation by a focused ion beam (FIB) . [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2016  
2.
79 p, 8.0 MB FIB una eina per a l'enginyeria de materials / Llobet Sixto, Jordi ; Universitat Autònoma de Barcelona. Escola Tècnica Superior d'Enginyeria
En aquest projecte es presenta la tecnologia FIB com una eina capaç d'oferir solucions de nanocaracterització i nanofabricació dins de l'entorn del BCN-b. En primer lloc es fa una breu descripció dels fenòmens que ocorren durant la utilització de l'equip i sobre les característiques i components que l'integren. [...]
2007  

¿Le interesa recibir alertas sobre nuevos resultados de esta búsqueda?
Defina una alerta personal vía correo electrónico o subscríbase al canal RSS.