Pàgina inicial > Resultats de la cerca: Matsui, Soichiro
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 1 registres trobats en 0.02 segons.
Articles, 1 registres trobats
Articles 1 registres trobats  
1.
8 p, 2.0 MB Boosting the local anodic oxidation of silicon through carbon nanofiber atomic force microscopy probes / Rius, Gemma (Nagoya Institute of Technology, NITech) ; Lorenzoni, Matteo (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Matsui, Soichiro (Nagoya Institute of Technology, NITech) ; Tanemura, Masaki (Nagoya Institute of Technology, NITech) ; Pérez Murano, Francesc (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Many nanofabrication methods based on scanning probe microscopy have been developed during the last decades. Local anodic oxidation (LAO) is one of such methods: Upon application of an electric field between tip and surface under ambient conditions, oxide patterning with nanometer-scale resolution can be performed with good control of dimensions and placement. [...]
2015 - 10.3762/bjnano.6.20
Beilstein journal of nanotechnology, Vol. 6 (january 2015) , p. 215-222  
Registre complet - Creative Commons

Vegeu també: autors amb noms similars
1 Matsui, S.
Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem