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$Self-pixelation through fracture in VO2 thin films$

28 p, 1.8 MB

Self-pixelation through fracture in VO2 thin films / Rodríguez Domínguez, Laura (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Del Corro, Elena (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Conroy, Michele (University of Limerick. Department of Physics) ; Moore, Kalani (University of Limerick. Department of Physics) ; Sandiumenge Ortiz, Felip (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Domingo Marimon, Neus (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Santiso, José (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Catalan, Gustau (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia)
Vanadium dioxide (VO2) is an archetypal Mott material with a metal-insulator transition (MIT) at near room temperature. In thin films, this transition is affected by substrate-induced strain but as film thickness increases, the strain is gradually relaxed and the bulk properties are recovered. [...]
2020 - DOI (Digital Object Identifier)

10.1021/acsaelm.0c00199
ACS applied electronic materials, Vol. 2, issue 5 (May 2020) , p. 1433-1439

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