Resultados globales: 5 registros encontrados en 0.02 segundos.
Artículos, Encontrados 2 registros
Documentos de investigación, Encontrados 3 registros
Artículos Encontrados 2 registros  
1.
8 p, 1.6 MB The ALBA spectroscopic LEEM-PEEM experimental station : Layout and performance / Aballe, Lucía (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Foerster, Michael (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Pellegrin, Eric (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Nicolás, Josep (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Ferrer Fàbregas, Salvador (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
The spectroscopic LEEM-PEEM experimental station at the CIRCE helical undulator beamline, which started user operation at the ALBA Synchrotron Light Facility in 2012, is presented. This station, based on an Elmitec LEEM III microscope with electron imaging energy analyzer, permits surfaces to be imaged with chemical, structural and magnetic sensitivity down to a lateral spatial resolution better than 20nm with X-ray excited photoelectrons and 10nm in LEEM and UV-PEEM modes. [...]
2015 - 10.1107/S1600577515003537
Journal of Synchrotron Radiation, Vol. 22, Part 3 (May 2015) , p. 745-752  
2.
3 p, 290.0 KB Evaluation and correction of aberrations in an optical correlator by phase-shifting interferometry / Iemmi, Claudio (Universidad de Buenos Aires. Departamento de Fisica) ; Moreno Soriano, Alfonso (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Nicolás, Josep (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Campos Coloma, Juan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física)
We propose a new method for evaluating and correcting aberrations in a Vander Lugt correlator. The technique is achieved with liquid-crystal displays of the correlator and allows the task to be performed in situ. [...]
2003 - 10.1364/OL.28.001117
Optics letters, Vol. 28, No. 13 (1 July 2003) , p. 1117-1119  

Documentos de investigación Encontrados 3 registros  
1.
8.8 MB 3D surface shape measurement using stereoscopic camera based structured light systems / Zhang, Haolin ; Campos Coloma, Juan, dir. ; Nicolás, Josep, dir. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física
La mesura estructurada de la llum ens permet obtenir una forma tridimensional de superfície d'un objecte amb una gran precisió. Així, troba aplicacions àmplies en aplicacions industrials. A més, projectant patrons de franja digital a l'objecte mesurat, la llum estructurada garanteix una mesura de superfície flexible. [...]
La medición de luz estructurada nos permite obtener la forma tridimensional de la superficie de un objeto con alta precisión. Por lo tanto, encuentra amplias aplicaciones en aplicaciones industriales. [...]
Structured light measurement allows us to obtain three-dimensional surface shape of an object with high accuracy. Thus, it finds extensive applications in industrial applications. Moreover, by projecting digital fringe patterns to the measured object, structured light guarantees a flexible surface measurement. [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2020.  
2.
219 p, 6.2 MB Desenvolupament d'algorismes numérics per al càlcul de la topografia dels miralls per a un sincrotró / Vidal González, Josep ; Campos, Juan, dir. ; Nicolás, Josep, dir. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física
La mesura de superfícies òptiques ha esdevingut un camp d'investigació molt important en els últims anys. En els sincrotrons es necessiten òptiques que tinguin una precisió en l'ordre del nanòmetre per tal d'assolir la brillantor necessària en les investigacions. [...]
Measuring optic surfaces is a research field very important, specially in the last 20 years. Synchrotrons need optics with an accuracy of the nonemeter for achieving the brilliance needed in the beamlines. [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2015  
3.
62 p, 691.6 KB Liquid crystal display-based optical processor for color pattern recognition by three-dimensional correlation / Nicolás, Josep ; Yzuel Giménez, María Josefa, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Campos Coloma, Juan, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física)
En aquesta tesi es proposa i estudia una arquitectura per al reconeixement òptic a temps real d'imatges en color. Aquest estudi es divideix en tres parts principals. La primera és la definició d'un formalisme per a descriure les imatges en color mitjançant funcions tridimensionals, entre les que una conté la distribució de color de cada píxel. [...]
In this thesis a new architecture for real time color pattern recognition is proposed and studied. This study is divided in three main parts: First, the definition of a formalism to describe color images by three dimensional functions, in which the third variable contains the color distribution of each pixel. [...]

Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2004
7 documentos

Vea también: autores con nombres similares
1 Nicolás, Josep M.
1 Nicolás, Josep Maria
2 Nicolás, Josep,
¿Le interesa recibir alertas sobre nuevos resultados de esta búsqueda?
Defina una alerta personal vía correo electrónico o subscríbase al canal RSS.