Angle resolved photoelectron spectroscopy - Resultados de la búsqueda

Buscar colecciones:

Ordenar por:	Mostrar resultados:	Formato de visualización:

Resultados globales: 2 registros encontrados en 0.02 segundos.
Artículos, Encontrados 2 registros

Artículos	Encontrados 2 registros

27 p, 1.3 MB

Neutral organic radical formation by chemisorption on metal surfaces / Ajayakumar, M. R. (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Moreno, Cesar (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Alcón, Isaac (Universitat de Barcelona. Departament de Ciència de Materials i Química Física) ; Illas, Francesc (Universitat de Barcelona. Departament de Ciència de Materials i Química Física) ; Rovira Angulo, Concepció (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Veciana i Miró, Jaume (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Bromley, Stefan (Universitat de Barcelona. Departament de Ciència de Materials i Química Física) ; Mugarza, Aitor (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Mas-Torrent, Marta (Institut de Ciència de Materials de Barcelona)
Organic radical monolayers (r-MLs) bonded to metal surfaces are potential materials for the development of molecular (spin)electronics. Typically, stable radicals bearing surface anchoring groups are used to generate r-MLs. [...]
2020 - DOI (Digital Object Identifier)

10.1021/acs.jpclett.0c00269
Journal of physical chemistry letters, Vol. 11, issue 10 (May 2020) , p. 3897-3904

Registro completo -

26 p, 1.8 MB

Growth of Twin-Free and Low-Doped Topological Insulators on BaF2(111) / Bonell, Frédéric (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; González Cuxart, Marc (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Song, Kenan (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Robles, Roberto (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Ordejon, Pablo (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Roche, Stephan (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Mugarza, Aitor (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Valenzuela, Sergio O. (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Universitat Autònoma de Barcelona
We demonstrate the growth of twin-free BiTe and SbTe topological insulators by molecular beam epitaxy and a sizable reduction of the twin density in BiSe on lattice-matched BaF(111) substrates. Using X-ray diffraction, electron diffraction and atomic force microscopy, we systematically investigate the parameters influencing the formation of twin domains and the morphology of the films, and show that Se- and Te-based alloys differ by their growth mechanism. [...]
2017 - DOI (Digital Object Identifier)

10.1021/acs.cgd.7b00525
Crystal Growth and Design, Vol. 17, Núm. 9 (September 2017) , p. 4655-4660

Registro completo -

¿Le interesa recibir alertas sobre nuevos resultados de esta búsqueda?
Defina una alerta personal vía correo electrónico o subscríbase al canal RSS.