Pàgina inicial > Resultats de la cerca: Charged currents
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 2 registres trobats en 0.02 segons.
Articles, 2 registres trobats
Articles 2 registres trobats  
1.
4 p, 378.3 KB Breakdown-induced negative charge in ultrathin SiO2 films measured by atomic force microscopy / Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Blüm, M. C. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Sadewasser, S. (Hahn-Meitner-Institut (Berlin, Alemanya)) ; American Physical Society
Atomic-force-microscopy-based techniques have been used to investigate at a nanometer scale the dielectric breakdown (BD) of ultrathin (<6 nm) SiO2films of metal-oxide-semiconductordevices. The results show that BD leads to negative charge at the BD location and the amount of created charge has been estimated. [...]
2002 - 10.1063/1.1519357
Applied physics letters, Vol. 81, Issue 19 (October 2002) , p. 3615-3617  
Registre complet -
2.
4 p, 227.5 KB Measuring electrical current during scanning probe oxidation / Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Olmos, Cristina (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Kuramochi, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Yokoyama, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Dagata, J. A. (National Institute of Standards and Technology (Gaithersburg, Estats Units d'Amèrica)) ; American Physical Society
Electrical current is measured during scanning probe oxidation by performing force versus distance curves under the application of a positive sample voltage. It is shown how the time dependence of the current provides information about the kinetics of oxide growth under conditions in which the tip-surface distance is known unequivocally during current acquisition. [...]
2003 - 10.1063/1.1572480
Applied physics letters, Vol. 82, Issue 18 (April 2003) , p. 3086-3088  
Registre complet -

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem