Pàgina inicial > Resultats de la cerca: Secondary ion mass spectroscopy
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 1 registres trobats en 0.04 segons.
Articles, 1 registres trobats
Articles 1 registres trobats  
1.
4 p, 664.3 KB 180 diffusion through amorphous SiOs and cristobalite / Rodríguez-Viejo, Javier (Institut des Sciences et de Génie des Matériaux et Procédés (Font-Romeu, França)) ; Sibieude, F. (Institut des Sciences et de Génie des Matériaux et Procédés (Font-Romeu, França)) ; Clavaguera-Mora, M. T. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Monty, C. (Laboratoire de Physique des Matériaux (Meudon, França)) ; American Physical Society
Secondary ion mass spectrometry was used to profile the diffusion of oxygen in polycrystalline β-cristobalite and vitreous SiO2. The tracer concentration profiles of cristobalite are consistent with a model based on two mechanisms: bulk and short-circuit diffusion. [...]
1993 - 10.1063/1.110644
Applied physics letters, Vol. 63, Issue 14 (October 1993) , p. 1906-1908  
Registre complet -

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem