Página principal > Resultados de la búsqueda: Time constants
  Consejos para la búsqueda
Búsqueda avanzada
Buscar colecciones:
Ordenar por: Mostrar resultados: Formato de visualización:
Resultados globales: 3 registros encontrados en 0.02 segundos.
Artículos, Encontrados 3 registros
Artículos Encontrados 3 registros  
1.
29 p, 980.9 KB New lower bounds of the number of critical periods in reversible centers / Sanchez Sanchez, Ivan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Matemàtiques) ; Torregrosa, Joan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Matemàtiques)
In this paper we aim to find the highest number of critical periods in a class of planar systems of polynomial differential equations for fixed degree having a center. We fix our attention to lower bounds of local criticality for low degree planar polynomial centers. [...]
2021 - 10.1016/j.jde.2021.05.013
Journal of differential equations, Vol. 292 (August 2021) , p. 427-460  
Registro completo - Creative Commons
2.
22 p, 352.2 KB Criticality via first order development of the period constants / Sánchez-Sánchez, Iván (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Matemàtiques) ; Torregrosa, Joan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Matemàtiques)
In this work we study the criticality of some planar systems of polynomial differential equations having a center for various low degrees n. To this end, we present a method which is equivalent to the use of the first non-identically zero Melnikov function in the problem of limit cycles bifurcation, but adapted to the period function. [...]
2021 - 10.1016/j.na.2020.112164
Nonlinear Analysis : Theory, Methods and Applications, Vol. 203 (February 2021) , art. 112164  
Registro completo - Creative Commons
3.
17 p, 1.4 MB New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM / Maestro Izquierdo, Marcos (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; González, M. B. (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Random Telegraph Noise (RTN) is one of the main reliability problems of resistive switching-based memories. To understand the physics behind RTN, a complete and accurate RTN characterization is required. [...]
2016 - 10.1016/j.sse.2015.08.010
Solid-state electronics, Vol. 115, Part B (January 2016) , p. 140-145  
Registro completo - Creative Commons

¿Le interesa recibir alertas sobre nuevos resultados de esta búsqueda?
Defina una alerta personal vía correo electrónico o subscríbase al canal RSS.
Depósito Digital de Documentos de la UAB :: Buscar :: Enviar :: Personalizar :: Ayuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantenido por ddd.bib@uab.cat  :: Metadatos sujetos a:
Colaboramos