Microscopy Lab and Material Characterisation Techniques (year-long) - Resultats de la cerca

Cerca col·leccions:

Ordena'ls per:	Mostrar els resultats:	Format de visualizació:

Resultats globals: 5 registres trobats en 0.20 segons.
Materials acadèmics, 5 registres trobats

Materials acadèmics	5 registres trobats

6 p, 112.1 KB

Laboratori de Microscòpies i Tècniques de Caracterització de Materials [103307] / Rodriguez Tinoco, Cristian ; García, Gemma ; Mata Martínez, Ignacio Ramon ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
- Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat - Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM. - Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies. [...]
Objectives: - Introduction to electronic microscopy and SPM - Theoretical foundations and description of the technical equipment in SEM, TEM, STM and AFM microscopes. - Analysis of surface morphology and microstructure, at the atomic scale, of different materials using microscopes. [...]
- Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad - Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM. - Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias. [...]
2023-24
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]

3 documents

Registre complet -

6 p, 112.4 KB

Laboratori de Microscòpies i Tècniques de Caracterització de Materials [103307] / Rodriguez Tinoco, Cristian ; García, Gemma ; Mata Martínez, Ignacio Ramón ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
- Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat - Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM. - Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies. [...]
Objectives: - Introduction to electronic microscopy and SPM - Theoretical foundations and description of the technical equipment in SEM, TEM, STM and AFM microscopes. - Analysis of surface morphology and microstructure, at the atomic scale, of different materials using microscopes. [...]
- Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad - Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM. - Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias. [...]
2022-23
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]

3 documents

Registre complet -

6 p, 112.5 KB

Laboratori de Microscòpies i Tècniques de Caracterització de Materials [103307] / Rodriguez Tinoco, Cristian ; García, Gemma ; Lopeandía Fernández, Aitor ; Abad, Llibertat ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
- Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat - Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM. - Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies. [...]
Objectives: - Introduction to electronic microscopy and SPM - Theoretical foundations and description of the technical equipment in SEM, TEM, STM and AFM microscopes. - Analysis of surface morphology and microstructure, at the atomic scale, of different materials using microscopes. [...]
- Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad - Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM. - Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias. [...]
2021-22
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]

3 documents

Registre complet -

6 p, 112.1 KB

Laboratori de Microscòpies i Tècniques de Caracterització de Materials [103307] / García, Gemma ; Gibert Roca, Martí ; Lopeandía Fernández, Aitor ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Ciències
- Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat - Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM. - Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies. [...]
- Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad - Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM. - Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias. [...]
2020-21
Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983]