Dipòsit Digital de Documents de la UAB 6 registres trobats  La cerca s'ha fet en 0.01 segons. 
1.
184 p, 3.5 MB Analysis of the resistive switching phenomenon in MOS devices for memory and logic applications / Maestro Izquierdo, Marcos, autor. ; Rodríguez Martínez, Rosana, supervisor acadèmic. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica.
En general, la continua evolución de la tecnología ha llevado a afrontar nuevos retos emergentes. En cuanto al campo de la electrónica, uno de los más relevantes ha sido la ley de Moore que postula que "el número de transistores en un circuito integrado se duplica aproximadamente cada dos años". [...]
In general, the continuous evolution, and improvement, of the technology has led to face new emerging challenges. Regarding the electronic field, one of the most relevant has been the Moore's law which postulates "the number of transistors in a dense integrated circuit doubles approximately every two years". [...]

[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2017.  
2.
17 p, 1.4 MB New high resolution random telegraph noise (RTN) characterization method for resistive RAM / Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Díaz, J. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; González, M.B. (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC)) ; Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal Segura, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC)) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Random Telegraph Noise (RTN) is one of the main reliability problems of resistive switching-based memories. To understand the physics behind RTN, a complete and accurate RTN characterization is required. [...]
2016 - 10.1016/j.sse.2015.08.010
Solid-state electronics, Vol. 115, Part B (January 2016) , p. 140-145  
3.
5 p, 2.7 MB Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories. / Díaz, J. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
2016 - 10.1063/1.4954973
Review of scientific instruments, Vol. 87, Issue 6 (June 2016) , p. 64705  
4.
4 p, 1.6 MB Non-homogeneuos conduction of conductive filaments in Ni/HfO2/Si resistive switching structures observed with CAFM / Claramunt, S. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Wu, Qian (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; González, M.B. (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC)) ; Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal Segura, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona (CSIC)) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Conductive filaments (CFs) in Ni/HfO₂/Si resistive switching structures are analysed at the nanoscale by means of Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM). Differences in the CF conductivity are measured depending on the resistive state of the device. [...]
2015 - 10.1016/j.mee.2015.04.112
Microelectronic engineering, Vol. 147 (November 2015) , p. 335-338  
5.
57 p, 2.7 MB Non-structural carbohydrates in woody plants compared among laboratories / Quentin, Audrey G. (CSIRO (Australia). Land and Water) ; Pinkard, Elizabeth A. (CSIRO (Australia). Land and Water) ; Ryan, Michael G. (University of Colorado. Natural Resources Ecology Laboratory) ; Tissue, David T. (University of Western Sydney. Hawkesbury Institute for the Environment) ; Baggett, L. Scott. H (Rocky Mountain Research Station (Fort Collins, Colo.). USDA Forest Service) ; Adams, Henry D. (Los Alamos National Laboratory. Earth and Environmental Sciences Division) ; Maillard, Pascale (Institut national de la recherche agronomique (França)) ; Marchand, Jacqueline (Institut national de la recherche agronomique (França)) ; Landhäusser, Simon M. (University of Alberta. Department of Renewable Resource) ; Lacointe, André (Institut national de la recherche agronomique (França)) ; Gibon, Yves ; Anderegg, William R.L. ; Asao, Shinichi ; Atkin, Owen K. ; Bonhomme, Marc ; Claye, Caroline ; Chow, Pak S. ; Clément-Vidal, Anne ; Davies, Noel W. ; Dickman, L. Turin ; Dumbur, Rita ; Ellsworth, David S. ; Falk, Kristen ; Galiano, Lucía ; Grünzweig, José M. ; Hartmann, Henrik ; Hoch, Günter ; Hood, Sharon ; Jones, Joanna E. ; Koike, Takayoshi ; Kuhlmann, Iris ; Lloret Maya, Francisco (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Biologia Animal, de Biologia Vegetal i d'Ecologia) ; Maestro, Melchor ; Mansfield, Shawn D. ; Martínez Vilalta, Jordi, 1975- (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Biologia Animal, de Biologia Vegetal i d'Ecologia) ; Maucourt, Mickael ; McDowell, Nathan G. ; Moing, Annick ; Muller, Bertrand ; Nebauer, Sergio G. ; Niinemets, Ülo ; Palacio, Sara ; Piper, Frida ; Raveh, Eran ; Richter, Andreas ; Rolland, Gaëlle ; Rosas Torrent, Teresa (Centre de Recerca Ecològica i Aplicacions Forestals) ; Saint Joanis, Brigitte ; Sala, Anna ; Smith, Renee A. ; Sterck, Frank ; Stinziano, Joseph R. ; Tobias, Mari ; Unda, Faride ; Watanabe, Makoto ; Way, Danielle A. ; Weerasinghe, Lasantha K. ; Wild, Birgit ; Wiley, Erin ; Woodruff, David R.
Non-structural carbohydrates (NSC) in plant tissue are frequently quantified to make inferences about plant responses to environmental conditions. Laboratories publishing estimates of NSC of woody plants use many different methods to evaluate NSC. [...]
2015 - 10.1093/treephys/tpv073
Tree physiology, Vol. 35, Issue 11 (Nov. 2015) , p. 1146-1165  
6.
4 p, 1.1 MB Analysis of set and reset mechanisms in Ni/HfO2-based RRAM with fast ramped voltages / Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Diaz, J. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Gonzalez, M. B. (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Campabadal Segura, Francesca (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
The resistive switching phenomenon is analyzed using a purposely developed setup which allows fast ramped voltages and measurements in the time domain. Taking advantage of these capabilities, the Set and Reset processes in Ni/HfO2 structures have been studied for a large range of voltage ramp speeds. [...]
2015 - 10.1016/j.mee.2015.04.057
Microelectronic engineering, Vol. 147 (Nov. 2015) , p. 176-179  

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.