Pàgina inicial > Resultats de la cerca: I
  Consells de cerca
Cerca simple
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Dipòsit Digital de Documents de la UAB 63,796 registres trobats  1 - 10següentfinal  anar al registre: La cerca s'ha fet en 0.01 segons. 
1.
6 p, 71.8 KB De conocimientos y análisis de inteligencia / Moles i Plaza, Ramon-Jordi (Universitat Autònoma de Barcelona. Centre de Recerca en Governança del Risc) ; García Hom, Anna (Universitat Autònoma de Barcelona. Centre de Recerca en Governança del Risc) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Equip de Desenvolupament Organitzacional ; Congreso Internacional EDO (2n : 2012 : Barcelona, Catalunya)
Se trata de analizar cómo se define el modelo de gestión del conocimiento constatando que el acceso a los contenidos no lo es con independencia de las características de los usuarios (lengua, cultura o ubicación, por ejemplo), sino que es definido por alguien, en un cuando y en varios dónde, generando así espacios de conocimiento.
Las Rozas (Madrid): Wolters Kluwer Educación, 2012 (Congreso Internacional EDO)
Gestión del conocimiento y desarrollo organizativo : formación y formación corporativa, : 2012  
Registre complet -
2.
EthNote : A new digital tool for fieldnote collection, sharing, and processing / Pedersen, Morten Axel (Copenhagen Center for Social Data Science, SODAS) ; Lohse, August (Copenhagen Center for Social Data Science, SODAS) ; Gregersen, Munch (Copenhagen Center for Social Data Science, SODAS) ; Universitat Autònoma de Barcelona Grup de Recerca en Antropologia Fonamental i Orientada (GRAFO)
Ethnographic fieldnotes can contain richer and more thorough descriptions of social phenomena compared to other data sources. Their open-ended and flexible character makes them especially useful in explorative research. [...]
2024 (Seminaris GRAFO)  
Registre complet - Creative Commons
3.
10 p, 2.9 MB On the aging of OTFTs and its impact on PUFs reliability / Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Arnal Rus, August (FlexiIC SL.) ; Ogier, Simon (SmartKem Ltd.) ; Ramon, Eloi (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Given the current maturity of printed technologies, Organic Thin-Film Transistors (OTFT) still show high initial variability, which can be beneficial for its exploitation in security applications. In this work, the process-related variability and aging of commercial OTFTs have been characterized to evaluate the feasibility of OTFTs-based Physical Unclonable Functions (PUFs) implementation. [...]
Multidisciplinary Digital Publishing Institute (MDPI), 2024 - 10.3390/mi15040443
Micromachines, Vol. 15, issue 4 (April 2024) , art. 443  
Registre complet - Creative Commons
4.
6 p, 3.2 MB Noise prism : a novel multispectral visualization technique / Canham, Trevor (York University) ; Vázquez i Corral, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona) ; Long, David L. (Rochester Institute of Technology) ; Murray, Richard F. (York University) ; Brown, Michael S. (York University)
A novel technique for visualizing multispectral images is proposed. Inspired by how prisms work, our method spreads spectral information over a chromatic noise pattern. This is accomplished by populating the pattern with pixels representing each measurement band at a count proportional to its measured intensity. [...]
Springfield, VA : Society for Imaging Science and Technology, 2023 - 10.2352/CIC.2023.31.1.36
31st Color and Imaging Conference Final Program and Proceedings, (Nov. 2023) , p. 193 - 198  
Registre complet - Creative Commons
5.
Challenges and solutions to the defect-centric modeling and circuit simulation of time-dependent variability / Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Time-Dependent Variability (TDV) phenomena represent a serious concern for device and circuit reliability. To address the TDV impact at circuit level, Reliability-Aware Design (RAD) tools can be used by circuit designers to achieve more reliable circuits. [...]
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2023 - 10.1109/irps48203.2023.10118334
2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Proceedings  
Registre complet -
6.
5 p, 667.4 KB Circuit reliability prediction : challenges and solutions for the device time-dependent variability characterization roadblock / Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martin-Lloret, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Toro-Frias, Antonio (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Mateo, Diego (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Barajas, Enrique (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aragones, Xavier (Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
The characterization of the MOSFET Time-Dependent Variability (TDV) can be a showstopper for reliability-aware circuit design in advanced CMOS nodes. In this work, a complete MOSFET characterization flow is presented, in the context of a physics-based TDV compact model, that addresses the main TDV characterization challenges for accurate circuit reliability prediction at design time. [...]
IEEE, 2021 - 10.1109/laedc51812.2021.9437920
2021 IEEE Latin America Electron Devices Conference, (2021), p. 1-4  
Registre complet -
7.
5 p, 2.0 MB Simulating the impact of random telegraph noise on integrated circuits / Saraza-Canflanca, Pablo (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Camacho-Ruiz, Eros (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Castro-Lopez, Rafael (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Roca, Elisenda (Instituto de Microelectrónica de Sevilla) ; Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Fernandez, Francisco V. (Instituto de Microelectrónica de Sevilla)
This paper addresses the statistical simulation of integrated circuits affected by Random Telegraph Noise (RTN). For that, the statistical distributions of the parameters of a defect-centric model for RTN are experimentally determined from a purposely designed integrated circuit with CMOS transistor arrays. [...]
VDE Verlag GmbH, 2021
SSMACD / PRIME 2021; International Conference on SMACD and 16th Conference on PRIME, (2021), p. 1-4  
Registre complet -
8.
9 p, 1.2 MB Methodology for the simulation of the variability of MOSFETs with polycrystalline high-k dielectrics using CAFM input data / Ruiz, Ana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Couso, Carlos (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Seoane, Natalia (Universidade de Santiago de Compostela. Citius) ; Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Garcia-Loureiro, Antonio (Universidade de Santiago de Compostela. Citius) ; Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
In this work, a simulation methodology, whose inputs are Conductive Atomic Force Microscope (CAFM) experimental data, is proposed to evaluate the impact of nanoscale variability sources related to the polycrystallization of high-k dielectrics (i. [...]
2021 - 10.1109/ACCESS.2021.3090472
IEEE Access, Vol. 9 (2021) , p. 90568-90576  
Registre complet - Creative Commons
9.
50 p, 763.7 KB EL CASO ARANDINA. Mitos de la violación y la construcción del relato del terror sexual a través del dispositivo judicial / Allonca Sánchez, Alejandra ; Garrido, Lorena , dir. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Filosofia i Lletres
El objetivo del presente trabajo es examinar la presencia de los mitos de la violación en las sentencias del caso de la violación grupal de la Arandina con la intención de analizar cómo se articula el relato del terror sexual a través de ellos. [...]
L'objectiu del present treball és examinar la presència dels mites de la violació en les sentències del cas de la violació grupal de la Arandina amb la intenció d'analitzar com s'articula el relat del terror sexual a través d'ells. [...]
The aim of this paper is to examine the presence of myths of violence in the courts decisions of the Arandina gang rape case with the intention of analyzing how the narrative of sexual terror is articulated through them. [...]
Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2023
Grau en Estudis Socioculturals de Gènere [1556]  
Registre complet - Creative Commons
10.
58 p, 80.7 MB Una genealogia de la fatalitat. La perpetuació d'un mite en el cinema mut amb precedents en el segle XIX / Tato Bernalte, Idaira ; Llorens Moreno, Núria , dir. ; Universitat Autònoma de Barcelona. Facultat de Filosofia i Lletres ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Art i de Musicologia
El context de mitjan del segle XIX va fomentar la creació i perpetuació d'uns estereotips femenins ideats per a una societat temorosa davant la progressiva emancipació de la dona. La misogínia finisecular va alimentar la visió de la dona en una dicotomia Maria/Eva, que va derivar en la creació d'una fantasia de la mitologia eròtica femenina, visible en l'art i la literatura de l'època: així sorgeix la femme fatale. [...]
Mid-nineteenth century context encouraged the creation and perpetuation of feminine stereotypes designed for a society fearful of the progressive emancipation of women. End-of-the-century misogyny fueled the vision of women in a Mary/Eve dichotomy, which resulted in the creation of a fantasy of female erotic mythology, visible in the art and literature of that time: thus emerges the femme fatale. [...]
Bellaterra: Universitat Autònoma de Barcelona, 2023
Grau en Història de l'Art [807]  
Registre complet - Creative Commons

Dipòsit Digital de Documents de la UAB : 63,796 registres trobats   1 - 10següentfinal  anar al registre:
Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem