Dipòsit Digital de Documents de la UAB 1 registres trobats  La cerca s'ha fet en 0.00 segons. 
1.
12 p, 1.3 MB Application of synchrotron through-the-substrate microdiffraction to crystals in polished thin sections / Rius, Jordi (Institut de Ciència dels Materials de Barcelona) ; Vallcorba Valls, Oriol (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Frontera, Carlos (Institut de Ciència dels Materials de Barcelona) ; Peral Alonso, Inmaculada (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Crespi, Anna (Institut de Ciència dels Materials de Barcelona) ; Miravitlles Torras, Carles (Institut de Ciència de Materials de Barcelona) ; Universitat Autònoma de Barcelona
The synchrotron through-the-substrate X-ray microdiffraction technique is applied to the structural study of microvolumes of randomly oriented crystals embedded in polished thin sections. The whole procedure is discussed in detail with the help of examples from petrology, and possible future developments are envisaged. [...]
2015 - 10.1107/S2052252515007794
IUCrJ, Vol. 2, part 4 (July 2015) , p. 452-463  

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.