Pàgina inicial > Resultats de la cerca: León Cerro, J
  Consells de cerca
Cerca avançada
Cerca col·leccions:
Ordena'ls per: Mostrar els resultats: Format de visualizació:
Resultats globals: 1 registres trobats en 0.01 segons.
Documents de recerca, 1 registres trobats
Documents de recerca 1 registres trobats  
1.
285 p, 14.1 MB Advanced analysis of microelectronic devices and systems by lock-in IR thermography / León Cerro, Javier ; Perpiñà Giribet, Xavier, dir. ; Vellvehi, Miquel, dir. ; Abadal Berini, Gabriel, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica
Desde los inicios de la revolución microelectrónica, su evolución tecnológica siempre se ha visto marcada por la búsqueda constante de dispositivos y sistemas electrónicos monolíticos más compactos, fiables y robustos, ofreciendo mejores prestaciones y funcionalidades a un coste razonable. [...]
Since the microelectronic revolution, its technological evolution has been aimed at searching for more compact, reliable, and rugged electronic devices or integrated systems, offering as much performances and functionalities as possible at a lower cost. [...]
[Barcelona] : Universitat Autònoma de Barcelona, 2016  
Registre complet - Creative Commons

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.
Dipòsit Digital de Documents de la UAB :: Cerca :: Lliura :: Personalitza :: Ajuda
Powered by Invenio v1.1.6
Mantingut per ddd.bib@uab.cat  :: Metadades subjectes a:
Col·laborem