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7 p, 4.2 MB Nanoscale imaging of buried topological defects with quantitative X-ray magnetic microscopy / Blanco-Roldán, Cristina (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Quirós, Carlos (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Sorrentino, A. (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Hierro-Rodríguez, A. (Universidade do Porto. Departamento de Física e Astronomia) ; Álvarez-Prado, Luis Manuel (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Valcárcel, R. (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Duch, M. (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Torras, Núria (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Esteve, Jaume (Institut de Microelectrònica de Barcelona) ; Martín Carbajo, José Ignacio (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Vélez Fraga, María (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Alameda-Maestro, José María (Universidad de Oviedo. Centro de Investigación en Nanomateriales y Nanotecnología) ; Pereiro, Eva (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró) ; Ferrer Fàbregas, Salvador (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
Advances in nanoscale magnetism increasingly require characterization tools providing detailed descriptions of magnetic configurations. Magnetic transmission X-ray microscopy produces element specific magnetic domain images with nanometric lateral resolution in films up to ∼100 nm thick. [...]
2015 - 10.1038/ncomms9196
Nature communications, Vol. 6 (September 2015) , art. 8196  
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