Results overview: Found 2 records in 0.02 seconds.
Articles, 1 records found
Research literature, 1 records found
Articles 1 records found  
4 p, 227.5 KB Measuring electrical current during scanning probe oxidation / Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Martín Olmos, Cristina (Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB-CNM)) ; Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Enginyeria Electrònica) ; Kuramochi, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Yokoyama, H. (Nanotechnology Research Institute (Ibaraki, Japó)) ; Dagata, J. A. (National Institute of Standards and Technology (Gaithersburg, Estats Units d'Amèrica)) ; American Physical Society
Electrical current is measured during scanning probe oxidation by performing force versus distance curves under the application of a positive sample voltage. It is shown how the time dependence of the current provides information about the kinetics of oxide growth under conditions in which the tip-surface distance is known unequivocally during current acquisition. [...]
2003 - 10.1063/1.1572480
Applied physics letters, Vol. 82, Issue 18 (April 2003) , p. 3086-3088  

Research literature 1 records found  
144 p, 7.3 MB Micro/nano fabrication of polymer-based devices / Martín Olmos, Cristina ; Pérez Murano, Francesc, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Llobera Adan, Andreu, dir. (Consejo Superior de Investigaciones Científicas)
Aquest document resumeix el treball d'investigació realitzat per l'obtenció del títol de Doctor en Enginyeria Electrònica a la Universitat Autònoma de Barcelona (UAB). El treball ha estat elaborat al Centre Nacional de Microelectrònica (CNM), a l'Institut de Microelectrònica de Barcelona (IMB). [...]
Este documento resume el trabajo de investigación realizado para la obtención del título de Doctora en Ingeniería Electrónica en la Universitat Autònoma de Barcelona (UAB). El trabajo ha sido elaborado en el Centro Nacional de Microelectrónica (CNM), en el Instituto de Microelectrónica de Barcelona (IMB). [...]
This document summarizes the research work performed in order to obtain the Ph. D. degree in Electronic Engineering at the Universitat Autònoma de Barcelona (UAB). The work has been done at the National Centre for Microelectronics (Centro Nacional de Microelectrónica CNM), at the Institute of Microelectronics in Barcelona (IMB). [...]

Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2008
2 documents

Interested in being notified about new results for this query?
Set up a personal email alert or subscribe to the RSS feed.