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30 p, 451.9 KB Desenvolupament d'un microscopi òptic de camp proper (SNOM) per a la caracterització de components optoelectrònics integrats / Borrisé, Xavier ; Barniol i Beumala, Núria, dir. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
L'objectiu principal d'aquesta tesi és el desenvolupament d'una nova eina de caracterització local, basada en tècniques de microscòpia d'escombrat, que permeti estudiar la propagació de la llum en medis de guiat òptic. [...]
The main objective of this thesis is to develop a new instrument, a Scanning Near-Field Optical Microscope (SNOM), based on scanning microscopy techniques, for the characteritzation of optical guiding devices. [...]
Bellaterra : Universitat Autònoma de Barcelona, 2001
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