Resultats globals: 1 registres trobats en 0.03 segons.
Articles, 1 registres trobats
Articles 1 registres trobats  
4 p, 630.0 KB Modification of HF-treated silicon (100) surfaces by scanning tunneling microscopy in air under imaging conditions / Barniol i Beumala, Núria (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; American Physical Society
The modification of HF‐etched silicon (100) surface with a scanning tunneling microscope(STM) operated in air is studied for the first time in samples subjected to the standard HF etching without the follow‐up rinsing in H2O. [...]
1992 - 10.1063/1.107885
Applied Physics Letters, Vol. 61, Issue 4 (July 1992) , p. 462-464  

Us interessa rebre alertes sobre nous resultats d'aquesta cerca?
Definiu una alerta personal via correu electrònic o subscribiu-vos al canal RSS.