Exploitation of OTFTs variability for PUFs implementation and impact of aging
Claramunt, Sergi (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Palau, Gerard (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Arnal Rus, August (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Ogier, Simon (SmartKem Ltd.)
Ramon, Eloi (Institut de Microelectrònica de Barcelona)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Date:	2023
Description:	4 pàg.
Abstract:	Commercial Organic Thin Film Transistors (OTFT) have been characterized to evaluate their variability and reliability. The feasibility of implementing Physical Unclonable Functions (PUFs) based on these devices has been evaluated, taking advantage of the high variation in the electrical characteristics among different OTFTs. The eventual impact of device aging on PUFs reliability has been preliminary explored.
Grants:	Agencia Estatal de Investigación PID2019-103869RB-C32
Note:	Altres ajuts: acords transformatius de la UAB
Rights:	Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, i la comunicació pública de l'obra, sempre que no sigui amb finalitats comercials, i sempre que es reconegui l'autoria de l'obra original. No es permet la creació d'obres derivades.
Language:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar
Subject:	Aging ; OTFT ; PUF ; Reliability ; Variability
Published in:	Solid-state electronics, Vol. 207 (Sep. 2023) , art. 108698, ISSN 1879-2405

DOI: 10.1016/j.sse.2023.108698

Available from: 2025-09-30 Postprint

The record appears in these collections:
Articles > Research articles
Articles > Published articles