Correlation between the nanoscale electrical and morphological properties of crystallized hafnium oxide-based metal oxide semiconductor structures
-
Iglesias Santiso, Vanessa (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
;
Porti i Pujal, Marc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ;
Dudek, P. (Innovations for High Performance Microelectronics (Frankfurt, Alemanya)) ;
Schroeder, T. (Innovations for High Performance Microelectronics (Frankfurt, Alemanya)) ;
Bersuker, G. (SEMATECH (Austin, Estats Units d'Amèrica)) ;
American Physical Society