Predictive model for scanned probe oxidation kinetics - Dagata, J. A. (National Institute of Standards and Technology (Gaithersburg, Estats Units d'Amèrica)) ; Pérez Murano, Francesc (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Abadal Berini, Gabriel (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Morimoto, K. (Matsushita Electrical Industrial (Osaka, Japó)) ; Inoue, T. (Electrotechnical Laboratory (Tsukuba, Japó)) ; Itoh, J. (Electrotechnical Laboratory (Tsukuba, Japó)) ; Yokoyama, H. (Electrotechnical Laboratory (Tsukuba, Japó)) ; American Physical Society