Highly sensitive defect detectors and comparators exploiting port imbalance in rat-race couplers loaded with step-impedance open-ended transmission lines - Herrojo, Cristian (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Vélez Rasero, Paris (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Muñoz Enano, Jonathan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Su, Lijuan (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Casacuberta Orta, Pau (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica) ; Gil Barba, Marta (Universidad Politécnica de Madrid) ; Martín, Ferran (Martín Antolín) (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
 
Comments (0) | Reviews (0)
Be the first to review this document.

Add review

Rate this article:
Give a title to your review:
Write your review:
Note: you have not defined your nickname.
N/D will be displayed as the author of this comment.