Application of Synchrotron Radiation-Based Fourier-Transform Infrared Microspectroscopy for Thermal Imaging of Polymer Thin Films - Chávez Ángel, Emigdio (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Ng, Ryan C. (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Sandell, Susanne (Norwegian University of Science and Technology. Department of Structural Engineering) ; He, Jianying (Norwegian University of Science and Technology. Department of Structural Engineering) ; Castro-Alvarez, Alejandro (Universidad de La Frontera. Centro de Excelencia en Medicina Traslacional (Chile)) ; Sotomayor Torres, Clivia M. (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Kreuzer, Martin (ALBA Laboratori de Llum de Sincrotró)
 
Comentaris (0) | Ressenyes (0)
Sigueu el primer a escriure una ressenya d'aquest document.

Afegiu la vostra ressenya

Valoreu aquest article:
Doneu un títol a la vostra ressenya:
Escriviu la vostra ressenya:
Vigileu: encara no heu definit el vostre àlies.
N/D s'usarà temporalment com a autor d'aquest comentari.