visitante ::
identificación
|
|||||||||||||||
Buscar | Enviar | Ayuda | Servicio de Bibliotecas | Sobre el DDD | Català English Español |
Página principal > Materiales académicos > Guías docentes > Laboratori de Microscòpies i Tècniques de Caracterització de Materials |
Título variante: | Microscopy Lab and Material Characterisation Techniques (year-long) |
Título variante: | Laboratorio de Microscopias y Técnicas de Caracterización de Materiales |
Fecha: | 2023-24 |
Resumen: | - Introducció a la microscòpia electrònica i de proximitat - Fonaments teòrics i descripció de l'equipament tècnic en microscopis SEM, TEM, STM i AFM. - Anàlisis de la morfologia i microestructura superficial, a escala atòmica, de diferents materials utilitzant microscòpies. - Fonaments de la estructura cristal·logràfica de diferents materials. Introducció a l'anàlisi estructural mitjançant difracció de raigs X. - Introducció als conceptes de superfícies ideals i superfícies reals. Tractaments superficials i les seves aplicacions. - Introducció a la tecnologia del buit i la seva aplicació en les nanotecnologies 1. |
Resumen: | Objectives: - Introduction to electronic microscopy and SPM - Theoretical foundations and description of the technical equipment in SEM, TEM, STM and AFM microscopes. - Analysis of surface morphology and microstructure, at the atomic scale, of different materials using microscopes. - Fundamentals of the crystallographic structure of different materials. Introduction to structural analysis through X-ray diffraction. - Introduction to the concepts of ideal surfaces and real surfaces. Surface treatments and their applications. - Introduction to vacuum technology and its application in nanotechnologies. |
Resumen: | - Introducción a la microscopía electrónica y de proximidad - Fundamentos teóricos y descripción del equipamiento técnico en microscopios SEM, TEM, STM y AFM. - Análisis de la morfología y microestructura superficial, a escala atómica, de diferentes materiales utilizando microscopias. - Fundamentos de la estructura cristalográfica de diferentes materiales. Introducción al análisis estructural mediante difracción de rayos X. - Introducción a los conceptos de superficies ideales y superficies reales. Tratamientos superficiales y sus aplicaciones. - Introducción a la tecnología del vacíoy su aplicación en las nanotecnologías 1. |
Derechos: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. |
Lengua: | Català, anglès, castellà |
Titulación: | Nanociència i Nanotecnologia [2501922] |
Plan de estudios: | Grau en Nanociència i Nanotecnologia [983] |
Documento: | Objecte d'aprenentatge |
Català 6 p, 112.1 KB |
Anglès 6 p, 110.3 KB |
Castellà 7 p, 112.9 KB |