| Título variante: |
Local Probe Microscopies |
| Título variante: |
Microscopías de Sonda Local |
| Fecha: |
2025-26 |
| Resumen: |
Adquirir els coneixements necessaris per comprendre els fonaments i les capacitats avançades dels diferents microscopis de sondes d'escombrat (SPM) rellevants per a la nanociència i la nanotecnologia. |
| Resumen: |
Acquire the knowledge needed to understand the fundamentals and advances capabilities of the different Scanning Probe Microscopes (SPM) relevant for Nanoscience and Nanotechnology. |
| Resumen: |
Adquirir los conocimientos necesarios para comprender los fundamentos y las capacidades avanzadas de los diferentes microscopios de sondas de barrido (SPM) relevantes para la nanociencia y la nanotecnología. |
| Derechos: |
Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original.  |
| Lengua: |
Català, anglès, castellà |
| Titulación: |
Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology [4314939] |
| Plan de estudios: |
Màster Universitari en Nanociència i Nanotecnologia Avançades/ Advanced Nanoscience and Nanotechnology [1360] |
| Documento: |
Objecte d'aprenentatge |
visitante ::
identificación
