Simultaneous in-plane and out-of-plane exchange bias using a single antiferromagnetic layer resolved by x-ray magnetic circular dichroism - Nogués, Josep (Institut Català de Nanociència i Nanotecnologia) ; Stepanow, S. (Centre d'Investigació en Nanociència i Nanotecnologia) ; Sort Viñas, Jordi (Centro de Investigaciones Energéticas, Medioambientales y Tecnológicas (Espanya)) ; Dieny, B. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament de Física) ; Nolting, F. (Paul Scherrer Institut (Suïssa)) ; Gambardella, Pietro (Centre d'Investigació en Nanociència i Nanotecnologia) ; Institució Catalana de Recerca i Estudis Avançats ; American Physical Society