Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories
Diaz-Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Maestro Izquierdo, Marcos (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Martin Martinez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Date:	2016
Grants:	Ministerio de Economía y Competitividad TEC2010-16126 Ministerio de Economía y Competitividad TEC2013-45638-C3-R Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2014/SGR-384
Rights:	Tots els drets reservats.
Language:	Anglès
Document:	Article ; recerca ; Versió acceptada per publicar
Subject:	Resistive switching ; Resistive random acces memories (RRAM) ; Random telegraph noise ; Ultrafast measurement
Published in:	Review of scientific instruments, Vol. 87, Issue 6 (June 2016) , p. 64705, ISSN 0034-6748

DOI: 10.1063/1.4954973

Post-print 5 p, 2.7 MB

The record appears in these collections:
Research literature > UAB research groups literature > Research Centres and Groups (research output) > Engineering > The Reliability of Electron Devices and Circuits group (REDEC)
Articles > Research articles
Articles > Published articles