Web of Science: 0 citas, Scopus: 3 citas, Google Scholar: citas
Current-limiting and ultrafast system for the characterization of resistive random access memories.
Díaz Fortuny, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Maestro, M. (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Martín Martínez, Javier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Crespo Yepes, Albert (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Rodríguez Martínez, Rosana (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Nafría i Maqueda, Montserrat (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)
Aymerich Humet, Xavier (Universitat Autònoma de Barcelona. Departament d'Enginyeria Electrònica)

Fecha: 2016
Nota: Número d'acord de subvenció MINECO/TEC2010-16126
Nota: Número d'acord de subvenció MINECO/TEC2013-45638-C3-R
Nota: Número d'acord de subvenció AGAUR/2014/SGR-384
Derechos: Tots els drets reservats.
Lengua: Anglès
Documento: article ; recerca ; acceptedVersion
Materia: Resistive switching ; Resistive random acces memories (RRAM) ; Random telegraph noise ; Ultrafast measurement
Publicado en: Review of scientific instruments, Vol. 87, Issue 6 (June 2016) , p. 64705, ISSN 0034-6748

DOI: 10.1063/1.4954973


Post-print
5 p, 2.7 MB

El registro aparece en las colecciones:
Documentos de investigación > Documentos de los grupos de investigación de la UAB > Centros y grupos de investigación (producción científica) > Ingeniería > Grupo de Fiabilidad de Dispositivos y Circuitos Electrónicos (REDEC)
Artículos > Artículos de investigación
Artículos > Artículos publicados

 Registro creado el 2016-07-21, última modificación el 2020-10-14



   Favorit i Compartir