visitant ::
identificació
|
|||||||||||||||
Cerca | Lliura | Ajuda | Servei de Biblioteques | Sobre el DDD | Català English Español |
Pàgina inicial > Materials acadèmics > Guies docents > Microscòpies de Sonda Local |
Data: | 2018-19 |
Resum: | Acquire the knowledge needed to understand the fundamentals and advances capabilities of the different Scanning Probe Microscopes (SPM) relevant for Nanoscience and Nanotechnology. |
Drets: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. |
Llengua: | Anglès |
Titulació: | Nanociència i Nanotecnologia Avançades / Advanced Nanoscience and Nanotechnology [4314939] |
Pla d'estudis: | Màster Universitari en Nanociència i Nanotecnologia Avançades/ Advanced Nanoscience and Nanotechnology [1360] |
Document: | Objecte d'aprenentatge |
Anglès 3 p, 68.4 KB |