visitante ::
identificación
|
|||||||||||||||
Buscar | Enviar | Ayuda | Servicio de Bibliotecas | Sobre el DDD | Català English Español |
Página principal > Artículos > Artículos publicados > Converse flexoelectricity yields large piezoresponse force microscopy signals in non-piezoelectric materials |
Fecha: | 2019 |
Resumen: | Converse flexoelectricity is a mechanical stress induced by an electric polarization gradient. It can appear in any material, irrespective of symmetry, whenever there is an inhomogeneous electric field distribution. This situation invariably happens in piezoresponse force microscopy (PFM), which is a technique whereby a voltage is delivered to the tip of an atomic force microscope in order to stimulate and probe piezoelectricity at the nanoscale. While PFM is the premier technique for studying ferroelectricity and piezoelectricity at the nanoscale, here we show, theoretically and experimentally, that large effective piezoelectric coefficients can be measured in non-piezoelectric dielectrics due to converse flexoelectricity. |
Ayudas: | European Commission 308023 Ministerio de Economía y Competitividad MAT2016-77100-C2-1-P Ministerio de Economía y Competitividad FIS2015-73932-JIN Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2017/SGR-579 Ministerio de Economía y Competitividad SEV-2017-0706 European Commission 679451 Agència de Gestió d'Ajuts Universitaris i de Recerca 2017/SGR-1278 |
Derechos: | Aquest document està subjecte a una llicència d'ús Creative Commons. Es permet la reproducció total o parcial, la distribució, la comunicació pública de l'obra i la creació d'obres derivades, fins i tot amb finalitats comercials, sempre i quan es reconegui l'autoria de l'obra original. |
Lengua: | Anglès |
Documento: | Article ; recerca ; Versió publicada |
Materia: | Atomic force microscopy ; Electronic properties and materials |
Publicado en: | Nature communications, Vol. 10 (March 2019) , art. 1266, ISSN 2041-1723 |
6 p, 937.0 KB |